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  • XTU-4C涂鍍層厚度分析儀
    XTU-4C涂鍍層厚度分析儀

    涂鍍層厚度分析儀:微聚焦加強型X射線裝置:可測試各類極微小的樣品,即使檢測面積為0.002mm2的樣品也可輕松,精準檢測。變焦裝置及位置補償算法:可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽深度范圍0-30mm.自主研發的EFP算法:多層元素,各種元素及有機物,甚至有同種元素在不同層也可精準測量。

    更新時間:2025-05-07型號:XTU-4C訪問量:202
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